產品名稱：Thick680鍍層測厚儀
產品型號：X熒光測厚儀
更新時間：2025-02-16
產品特點：Thick680鍍層測厚儀(X熒光測厚儀)是根據多年的貴金屬檢測技術和經驗，Thick 680鍍層測厚儀以*的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬的成分檢測的需要，人性化的設計，Thick 680鍍層測厚儀使測試工作更加輕松完成
X熒光測厚儀Thick680鍍層測厚儀的詳細資料：
Thick680鍍層測厚儀（X熒光測厚儀）
Thick680鍍層測厚儀是根據多年的貴金屬檢測技術和經驗，Thick 680鍍層測厚儀以*的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬的成分檢測的需要，人性化的設計，Thick 680鍍層測厚儀使測試工作更加輕松完成
Thick 680鍍層測厚儀性能特點
專業貴金屬檢測
內置信噪比增強器，可有效提高儀器信號處理能力25倍以上
智能貴金屬軟件，與儀器相得益彰
任意多個可選擇的分析和識別模型
多變量非線性回收程序
Thick 680鍍層測厚儀技術指標
X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
X射線管：管電壓50KV，管電流1mA
可測元素：Ti～U
檢測器：正比計數管
樣品觀察：CCD攝像頭
測定軟件：薄膜FP法、檢量線法
Z軸程控移動高度 20mm
Thick 680鍍層測厚儀標準配置
X射線管，正比記數盒，高清攝像頭，高度激光，信號檢測電子電路。
Thick 680鍍層測厚儀應用領域
大型線路板，大型板材，鍍層厚度測試，快速測定：660mm縱深；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；主要用于貴金屬加工和首飾加工行業
| X熒光測厚儀EDX680技術指標 元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。 測量對象：固體、液體、粉末 分析檢出限可達：1ppm。 分析含量一般為：1ppm到99.9％。 多次測量重復性可達：0.1％。 長期工作穩定性為：0.1％。 | EDX680鍍層測厚儀標準配置 單樣品腔。 激光定位裝置。 正比計數盒探測器。 信號檢測電子電路。 高低壓電源。 X光管。 硬件 |
EDX680鍍層測厚儀工作環境要求環境溫度要求：15℃-30℃ |
| 如果你對X熒光測厚儀Thick680鍍層測厚儀感興趣，想了解更詳細的產品信息，填寫下表直接與廠家聯系： |
